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Nexview™ NX2 光学轮廓仪是为高应用需求设计的,集精密、算法、应用灵活性和自动化为一体,优异展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。Nexview™ NX2 光学轮廓仪采用的是非接触式测量技术,具有亚纳米测量精度(所有放大倍数下),可以快好地测量各种样品表面,是一款具有非常高率的产品。满足各种应用需求,包括平面度,粗糙度和波纹度,薄膜,台阶高度,适用于几乎任何材质表面,因此Nex
测量动态MEMS设备 光学轮廓仪是确定MEMS设备表面特征的一种非常有用的工具。传统意义上,光学轮廓仪被用来测量样品的表面特性。但是,在测量过程中,所测量的样品需保持在静止的状态下,如果样品不稳定或者处于运动状态则会引起图像混乱模糊、数据不完整或者数据丢失等现象。然而,对于MEMS设备,需要确定该设备处于运动状态时的形貌特征,了解和确定其在运动状态下的功能和特征对研发和生产质量控制至关重
可直接用于生产的三维光学轮廓仪系统。ZeGage™ Pro 和 ZeGage™ Pro HR 三维光学轮廓仪可对多种类型表面的微米和纳米级特征进行非接触式测量和表征,实现制造环境中的质量控制和过程监控。我们行业的 ZeGage Pro 系列由于其的性能、易用性、灵活性和精度为台式工业非接触表面轮廓仪设立了行业标准。ZeGage Pro 在 ZYGO 专有 CSI 技术的基础上,采用一系列
NewView™ 9000 3D光学轮廓仪提供了强大、多功能的非接触式光学表面分析。它可以简单和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、样品制备的。ZYGO相干扫描干涉技术(CSI)是系统的技术,在所有放大倍数下实现亚纳米的精度,并且能够快速准确的测试各种样品表面,为客户提供高率的体验。性能,和多样性灵活性是ZYGO NewView产品的标志。N
公司名: 北京仪光科技有限公司
联系人: 邱方莹
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